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選用超離完成預工作及顆粒狀深淺分布圖檢測
注意到微米技術技術產業附近多長時間的趨勢，微米技術級的顆粒劑現下被用在其它層面的資料里。而對于微米技術級備樣的顆粒劑分布區量測，為著能夠高從復性和準確的性的成果，預整理是非曲直常根本的。今天將簡紹拆分和洗去環境破壞物及集聚物的方式 ，并用脈沖激光粒徑儀對總體目標顆粒劑實施檢驗。
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